SRM1976c X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品產(chǎn)品核心規(guī)格與形態(tài)
基體材質(zhì)：高純度燒結(jié)氧化鋁（剛玉），該材質(zhì)具有極低的 X 射線衰減特性和化學(xué)穩(wěn)定性。
物理參數(shù)：?jiǎn)螁卧獮閳A盤(pán)狀結(jié)構(gòu)，直徑約 25.6 毫米，厚度約 2.2 毫米，采用專用模具單次沖壓成型。
表面特性：圓盤(pán)表面因壓實(shí)工藝存在約 10μm 的邊緣 - 中心凹陷，但不影響 XRD 測(cè)量精度；基體呈現(xiàn)軸對(duì)稱紋理，基面與圓盤(pán)表面平行。
SRM1976c X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品關(guān)鍵技術(shù)特性
1. 測(cè)量一致性保障
固體燒結(jié)圓盤(pán)形態(tài)徹l底消除了粉末樣品加載過(guò)程中可能引入的強(qiáng)度測(cè)量變異，確保不同實(shí)驗(yàn)室、不同操作人員使用時(shí)的結(jié)果可比性。
2. 微觀結(jié)構(gòu)優(yōu)勢(shì)
微應(yīng)變水平極低，僅存在微弱的 tanθ 依賴性高斯展寬，無(wú)明顯微晶尺寸展寬現(xiàn)象。晶粒尺寸、形狀及紋理的均一性通過(guò)單次批量生產(chǎn)工藝嚴(yán)格控制，為儀器校準(zhǔn)提供穩(wěn)定的衍射響應(yīng)基礎(chǔ)。
3. 計(jì)量溯源性
認(rèn)證指標(biāo)包括相對(duì)強(qiáng)度（無(wú)量綱比）和晶格參數(shù)（以納米為單位），均溯源至國(guó)際單位制（SI）。衍射線位置、偏振影響修正值等關(guān)鍵參數(shù)以信息值形式提供，支持精準(zhǔn)校準(zhǔn)運(yùn)算。
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陳經(jīng)理（銷售）
